以下因素會影響儀器的性能和厚度測量的度。

校準

    超聲測量的度取決于校準測厚儀時的度與用心程度。45MG儀器出廠時已配有多種探頭和應用的標準設置。在某些情況下，應根據(jù)不同的測量情祝，優(yōu)化這些設置。在任何情況卜，一旦要更換被測材料或探頭，就須進行聲速和零位校準。建議使用厚度已知的試塊進行定期核查，以確保測厚儀工作正常。

被測上件的表面粗糙度

    如果被測上件的正面和底面都平滑，則可以獲得*測量精度。如.果接觸而很粗糙，則所能測到的zui小厚度值會由于增厚的耦合層中出現(xiàn)聲反響而增大。此外，如果測試工件的正面和底面都很粗糙，則探頭可能會探測到多重具有微弱差別的聲程，從而使回波失真，導致不準確的測量結果。

耦合技術

    在模式1（接觸式探頭）的測量中，耦合層厚度屬于測量范圍的一部分，并由零位偏移的一部分補償。要獲得zui大精度，耦合技術一定要可靠穩(wěn)定。使用適當?shù)?/span>粘性耦合劑，僅施用足夠獲得可靠讀數(shù)的耦合劑量，并施予探頭穩(wěn)定的壓力，就可獲得穩(wěn)定的測量讀數(shù)。實踐證明，適中到較強的力度可獲取穩(wěn)定一致的讀數(shù)。一般來說，對于小直徑探頭，施予較輕的力度便可擠出多余的耦合劑，而大直徑探頭則需更大的力度達到相同的效果。在所有模式中，傾斜的探頭都會使回波失真，產生不正確的讀數(shù)，如下所述。

被測上件的曲率

    與此相關的一個問題是要使探頭與被測上件對直。在曲面上進行測量時，須將探頭置于上件的中心線處，并盡可能使探頭穩(wěn)定地貼附在表面上。在某些情況下，可用一個裝有彈簧的V型試塊支架使探頭保持對直的狀態(tài)。通常而言，當曲率半徑降低時，探頭的尺寸也應減小，而探頭的對直狀態(tài)則變得更為重要。對于曲率半徑極小的工件，需要使用水浸式測量方法。在某些情況下，觀察波形顯示有助于保持探頭的*對直狀態(tài)口通過觀察波形顯示，操作人員可發(fā)現(xiàn)持握探頭的*方式。在曲面上測量時，必須僅使用足夠獲取讀數(shù)的藕合劑量。多余的耦合劑會在探頭和被測工件之間形成片狀層，造成聲反響，從而產生錯誤信號，觸發(fā)錯誤讀數(shù)。

錐度或偏心

    若被測工件的接觸表面和底而相互呈錐度或偏心，回波會由于聲程在波束寬度中的變化而失真。測量精度因此而降低。嚴重情況下，將無法進行測量。

被測材料的聲學特性

在某些工程材料中，可能會有多個條件限制超聲厚度測量的精度和范圍。

• 聲散射:

    在諸如鑄造不銹鋼、鑄鐵、玻璃纖維及復合材料等材料中，聲能會從鑄件的單個微晶或從玻璃纖維或復合材料的異種材料交接處發(fā)散，造成聲束散射。任何材料中的孔隙也會產生同樣的效果。為防止探測到這些錯誤的散射回波，需要對儀器的靈敏度進行調節(jié)。但這種補償也會削弱儀器識別來自材料底面的正確回波的能力，從而限制了測量范圍。

• 聲衰減或聲吸收:

    在很多有機材料中，諸如低密度塑料和橡膠中，若使用常規(guī)超聲波厚度測量的頻率，聲能的衰減速度會非常快。這種衰減通常隨著溫度的升高而增加。因此對于這類材料，可測zui大厚度往往受到聲衰減的限制。

• 聲速變化:

    只有在材料聲速與儀器校準的聲速一致的情況下，超聲厚度測量才會準確。在某些材料中，聲速在不同的位置(一點到另一點)會發(fā)生很明顯的變化。這種情況會出現(xiàn)在某些鑄造金屬材料中，因為這些材料的晶粒結構會因不同的冷卻速度發(fā)生變化，而這種變化會使聲速產生各向異性現(xiàn)象。玻璃纖維由于樹脂/纖維比率的變化會產生局部聲速變化。許多塑料和橡膠材料在受到溫度影響時，聲速會急劇發(fā)生變化，因此聲速校準一定要在與測量實際材料時的溫度相同的溫度下進行。

相位顛倒或相位失真

    回波信號的相位或極性取決于兩種交界材料的相對聲阻抗(密度/聲速)。45MG儀器基于通常情況進行計算:被測上件的背而介質通常是空氣或液體，而空氣和液體的聲阻抗低于金屬、陶瓷或塑料的聲阻抗。但是，在某些特殊情況下，如:金屬表而上覆蓋有玻璃或塑料層，或鋼表面上有銅覆蓋層，阻抗關系會被顛倒，因此回波便會出現(xiàn)相位顛倒的情況。在這類情況卜，需要改變相關的回波檢測極性設置，以便保持測量的性。一些更為復雜的情況會發(fā)生在各向異性或非勻質材料中，如:粗粒金屬鑄件或一些復介材料，由于材質條件，會在聲束區(qū)域內產生多重聲程。在這種情況下，相位失真會生成一個無法清晰界定其極性(正極或負極)的回波。因此，有必要使用參考標準試塊仔細進行實驗，以確定對測量性的影響。