泰勒SURTRONIC DUO粗糙度儀

• 更新時間：2017-06-22
• 瀏覽次數：972

泰勒SURTRONIC DUO粗糙度儀
型號：SURTRONIC DUO
探頭系統：探頭系統
表面粗糙度測量范圍：199μm，40μm
掃描路徑：5mm
表面粗糙度分辨率：0.01μm
閾值波長：0.8 mm

訂購留言

分享到：

泰勒SURTRONIC DUO粗糙度儀

篤摯儀器（上海）有限公司介紹

銷售機電產品、機械設備、自動化設備、環保設備、電線電纜、汽摩配件、建材、金屬材料及制品、五金交電、儀器儀表、通訊產品及器材、辦公用品、計算機軟硬件及輔助設備（除計算機信息系統安全產品）、橡塑制品，商務信息咨詢，投資管理，機電設備維修，計算機、機械設備專業領域內的技術咨詢、技術服務。

DOOZ INSTRUMENT (SHANGHAI) CO., LTD.is an instruments and equipment supplier and service provider specialized in mechanical measurement machine, materials chemical composition, physical performance testing and analysis.

Since her inception, she has provided thousands of equipment to hundreds of business units, research institutes, laboratories and professional quality service Units. User base includes iron and steel metallurgy, nonferrous metals, metal recycling, aerospace, rail transportation, precision machinery factory, automotive electronics, home appliances and other fields.

After years of development, DOOZ has created a wealth of experience in sales and after-sales service team, which have got a very high reputation in our manufacturers and customers.

篤摯儀器代理的英國泰勒霍普森粗糙度測量裝置SURTRONIC DUO，具有內部進料單元的移動粗糙度測量裝置，小巧便攜，通用功能，用戶友好的界面，適合地板等表面粗糙度測量。

泰勒SURTRONIC DUO粗糙度儀

型號：SURTRONIC DUO
探頭系統：探頭系統
表面粗糙度測量范圍：199μm，40μm
掃描路徑：5mm
表面粗糙度分辨率：0.01μm
閾值波長：0.8 mm
數據傳輸類型：USB

應用：
用戶友好的移動粗糙度測量裝置，用于參數Ra，Rz，Rp，Rv，Rt，Rz1max，R3z（戴姆勒DB N 31007），Rsk，Rq和Rku的標準粗糙度測量。

執行：
3.7“彩色液晶顯示屏，zui多顯示4個測量值
拆分顯示和進紙單元
兩臺機器之間的藍牙連接（zui大距離2米）
粗糙度參數符合DIN ISO和ASME標準
顯示主要輪廓/參數Pa，Pz，Pp，Pv和Pt
集成滑蓋式探頭，金剛石為5μm
可以通過迷你USB端口充電
 

優點：
InstantOn，從待機模式到測量模式只需5秒鐘
操作簡單直觀，無需培訓
測量值保存到下次測量為止
電池壽命每次充電可達3000次測量