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| 品牌 | ElektroPhysik/德國EPK |
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EPK德國進(jìn)口MIKROTEST測厚儀影響精度因素
由于測厚儀經(jīng)過校準(zhǔn)后，在使用中不能再變動。所以，在實(shí)際使用中，可能會出現(xiàn)的一些影響測量精度的因素必須加以考慮，并對測量結(jié)果進(jìn)行必要的修正。以獲得更準(zhǔn)確的讀值。這些因素有：
- a.鋼鐵基體的磁特性及光澤
- b.基體金屬厚度：
該儀器有一個基體zui小臨界厚度值。型號不同、則這個厚度值不同。請參考技術(shù)說明指標(biāo)。若厚度超過這一zui小臨界厚度值，測量值不受影響。反之，則造成讀值偏高。
- c.邊緣效應(yīng)
該測量方法對被測體邊界、孔眼、空腔等表面形狀陡變敏感。因此，在靠近邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的。所以，技術(shù)說明指標(biāo)指出了zui小測量面積。一定要測量則必須經(jīng)過校對驗(yàn)證。
- d.曲率
被測件的曲率對測量有影響，一般凸面可以造成測值偏大，凹面則偏小。盡管儀器設(shè)計(jì)對這方面有所補(bǔ)償。
- e.覆蓋層的厚度
測厚精度隨覆層厚度變化面變化。對于薄的覆層，其測量精度是一個常數(shù)，與覆層厚度無關(guān)；對于厚度的覆層，其精度與覆層厚度近似成正比。
- f.剩磁
基體金屬的剩磁對 Mikrotest 測厚儀的測量結(jié)果會有影響。
- g.磁場
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場會嚴(yán)重干擾儀器工作。
- h.地球重力
Mikrotest 測厚儀測量讀數(shù)受測頭相對于地球重力方向影響。
EPK德國進(jìn)口MIKROTEST測厚儀影響精度因素：
修定
了解了以上幾項(xiàng)可能影響測量精度的因素，應(yīng)通過試測方法找到一個修正值
比較實(shí)用的方法如下：
在有以上情祝的沒有涂鍍層的被測件表面上先測幾次，找到一個平均初始值，然后在同樣條件的涂鍍層表面測取讀數(shù)后，減去這個初始值。
對于b項(xiàng)所列情況，還可以采取在基材下面緊貼一塊鐵板的方法來解決。
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MIKROTEST涂層測厚儀、測量鋼上所有非磁性涂層鍍層厚度（如漆、粉末涂層、塑料、鋅、銅、錫及鎳）。測量快速、、無損，三十多年來MICROTEST 已成為被廣泛應(yīng)用的自動測定涂鍍層厚度的儀器。德國的“訣竅”說明它在工藝技術(shù)及精度方面，具有磁性涂層測厚儀的zui高水準(zhǔn)。
技術(shù)參數(shù)：
